Tecnai G2 F20场发射电子显微镜，点分辨率0.24nm，线分辨率0.102nm，放大倍数可达103万倍。该仪器采用场发射电子枪，配备了高角环形暗场探测器（HAADF）,可以进行扫描透射分析工作，分辨率可以达到0.19nm。该仪器还配备了Inca X-Max电制冷能谱仪，分辨率可低至129eV（Mn Ka），可以对各种材料进行微区成分分析，探测元素范围为Be4-U92。

形貌像（明场像BF、暗场像DF）、高分辨像（HRTEM）、选区电子衍射（SAED）、扫描透射（STEM）、能谱分析（EDX）。

加速电压:200kV；电子枪:热场发射电子源，能量分辨率< 0.7eV；点分辨率:0 .24 nm； 信息分辨率:0 .14 nm； 线分辨率:0 .102 nm； 放大倍数:25～1,030,000倍 STEM高角环形暗场像分辨率:0 .19 nm； X射线能谱仪的元素分析范围:Be4～U92。

用于研究纳米材料的微观形貌、晶体结构，可分析粒径分布、晶体及晶界缺陷、生长方向等；配合能谱仪、扫描透射等附件对试样进行微区成分分析。广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。