成像椭偏仪主体,型号：Nanofilm_EP4-; 液/液界面光导测试单元；膜分析天平（LB槽），型号LB Large（KSV-Nima）;反射光谱仪，型号：Nanofilm_RefSpec;

对薄膜的实时原位可视化分析测试，实时查看样品微观尺度上的结构，实时原位测量诸如薄膜厚度、折射率和吸收系数等参数，实时进行微区原位紫外/近红外反射吸收光谱测试分析，也可以对薄膜进行区域化(选区)分析，获得所选区域的成像分析图。还可以结合其他分析测试技术对样品进行联合分析从而从样品中获取更多的信息。可同时满足液液界面、液固界面和固固界面分析。

1)厚度测量：范围1.0 nm-2μm，精度 ±0.5nm 2)折射率n可重复精度：0.0005 3)吸收系数k可重复精度：0.0005 4)原位紫外/近红外反射吸收光谱测试：范围300-900 nm，精度：1 nm

界面薄膜原位可视化分析测试；薄膜厚度无损测试；折射率和吸收系数等参数测试；微区原位紫外/近红外反射吸收光谱分析；薄膜选区成像分析；