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球差校正透射电镜 JEM-ARM300F
  • 仪器地址： 高新区园区嘉锡楼101
  • 仪器类别： 电子光学;透射电镜
  • 负责人： 林文烈
  • 仪器国别、厂家： 日本,日本电子JEOL
  • 联系方式： 15750889645 linwenlie@fjirsm.ac.cn
仪器名称：球差校正透射电镜
仪器型号：JEM-ARM300F
仪器国别、厂家：日本,日本电子JEOL
仪器类别：电子光学；透射电镜
仪器主要部件及参数：

透射电子显微镜主体；配置双球差校正器12级子；冷场发射电子枪300kv；配置HAADF、LAADF、BF、ABF探测器；配置两个100mm2无窗EDS探头及双能谱混合器；低剂量曝光技术和图像三维重构软件；Oneview相机

仪器主要功能及描述：

可获取原子级扫描透射像（STEM HADDF\LADDF\BF\ABF ）、高分辨像（HRTEM）、选区电子衍射（SAED）、形貌像（明场像BF、暗场像DF）、能谱分析（EDS），并兼容3D、原位工作。

仪器主要技术指标：

加速电压，300kv；

STEM HAADF resolution，63pm（300kv）；STEM BF resolution，82pm（300kv）；TEM point resolution，0.22nm（300kv）；TEM lattice resolution，60pm（300kv）；TEM Information limit，80 pm（300kv）；Ronchigram，≥27mrad（300kv）；Probe drift，≤0.5nm/min（300kv）；EDS能量分辨率:优于128eV。

仪器用途：

对材料样品微结构在原子尺度电子显微学测试与分析

应用案例：
仪器地址：高新区园区嘉锡楼101
负责人：林文烈
联系方式：15750889645 linwenlie@fjirsm.ac.cn