晶体光学性能综合评估平台
激光干涉仪 ZYGO VeriFire XPZ
  • 仪器地址: 海西院2号楼405
  • 仪器类别: 光学性能
  • 负责人: 黄凌雄
  • 仪器国别、厂家: 美国 ZYGO
  • 联系方式: 13960782512 hlx@fjirsm.ac.cn
仪器名称:激光干涉仪
仪器型号:ZYGO VeriFire XPZ
仪器国别、厂家:美国 ZYGO
仪器类别:None
仪器主要部件及参数:

激光干涉系统,透镜反射系统

仪器主要功能及描述:

精密测量各种反射面和光学系统的表面面形、精密测量光学系统的传输波前QPSI快速机械相移模式和传统的机械相移干涉模式(PSI)

仪器主要技术指标:

1)频率稳定度:<0.0001nm;

2)相干长度:>100m;

3)成像分辨率:1024*1024像素; 

4)帧速:100Hz(PSI) 。


仪器用途:

该仪器可对平面或球面进行快速高精度测量,并可传输光学系统和组件的波前。测量玻璃或塑料光学元件-如平面,透镜和棱镜-甚至精密加工的金属和陶瓷表面。

应用案例:
仪器地址:海西院2号楼405
负责人:黄凌雄
联系方式:13960782512 hlx@fjirsm.ac.cn