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晶体光学性能综合评估平台
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晶体光学性能综合评估平台
折射率测试系统
model 2010
仪器地址:
海西院综合楼407
仪器类别:
负责人:
黄凌雄
仪器国别、厂家:
美国 METRICON
联系方式:
13960782512 hlx@fjirsm.ac.cn
仪器名称:折射率测试系统
仪器型号:
model 2010
仪器国别、厂家:
美国 METRICON
仪器类别:
None
仪器主要部件及参数:
2010棱镜耦合仪
仪器主要功能及描述:
采用光波导技术,测试电介质及聚合物薄膜的膜厚和折射率
仪器主要技术指标:
探测波长:375nm/5
32nm/
632.8nm/
1550nm/
仪器用途:
该仪器可用于测试各类晶体的折射率
应用案例:
仪器地址:
海西院综合楼407
负责人:
黄凌雄
联系方式:
13960782512 hlx@fjirsm.ac.cn