晶体光学性能综合评估平台
折射率测试系统 model 2010
  • 仪器地址: 海西院综合楼407
  • 仪器类别:
  • 负责人: 黄凌雄
  • 仪器国别、厂家: 美国 METRICON
  • 联系方式: 13960782512 hlx@fjirsm.ac.cn
仪器名称:折射率测试系统
仪器型号:model 2010
仪器国别、厂家:美国 METRICON
仪器类别:None
仪器主要部件及参数:

2010棱镜耦合仪

仪器主要功能及描述:

采用光波导技术,测试电介质及聚合物薄膜的膜厚和折射率

仪器主要技术指标:

探测波长:375nm/532nm/632.8nm/1550nm/

仪器用途:

该仪器可用于测试各类晶体的折射率

应用案例:
仪器地址:海西院综合楼407
负责人:黄凌雄
联系方式:13960782512 hlx@fjirsm.ac.cn