报告一：XPS测试样品制备及实验数据处理方法

报告人：吴正龙 教授（北京师范大学）

报告二：XPS表面分析技术及应用

        报告人：葛亲青 应用工程师（赛默飞世尔）

培训主要内容：

1、XPS的样品制备

2、XPS的基本原理及应用

3、XPS的数据处理及分析

时间：2015年1月27日（周二） 下午14:30-17:30

地点：化学楼四楼报告厅（杨桥路）

报告人简介：

吴正龙教授，北京师范大学分析测试中心，从事光谱分析以及教学工作二十多年，现担任国标委表面分析标准分技术委员会委员，制定和参与多项电子能谱分析方法国标。

    葛亲青博士，毕业于复旦大学，现为赛默飞世尔技术应用工程师。

技术支撑中心

负责人：郭斌斌

联系电话：63173644